07. July 2016 Neue Ionenfeinstrahlanlage stärkt Nano- und Hochdruckforschung

Mit einer neuen Ionenfeinstrahlanlage (Focused Ion Beam, FIB) können Wissenschaftler bei DESY Materialien auf wenige Nanometer genau präparieren und dabei „live“ mit einem Rasterelektronenmikroskop beobachten. Darüber hinaus liefert das neue Spezialmikroskop detaillierte Einblicke in die innere Struktur von Materialproben. Das Kombinationsgerät wurde durch die Universität Bayreuth im Rahmen eines vom Bundesforschungsministerium (BMBF) geförderten Verbundforschungsprojekts angeschafft, das auf dem DESY-Gelände angesiedelt ist. Betrieben wird das Gerät im DESY-NanoLab gemeinsam mit der Universität Bayreuth. „Das Mikroskop kann nicht nur mikroskopische Defekte, Risse oder punktuelle Korrosionsstellen unter der Oberfläche von Materialien untersuchen, sondern auch mit dem fokussierten Ionenstrahl Probenoberflächen hochpräzise auf der Nanometerskala zurechtschneiden“, erläutert Projektwissenschaftler Maxim Bykov von der Universität Bayreuth. Ein Nanometer ist ein millionstel Millimeter. Mit Hilfe des Ionenstrahls lässt sich Material abtragen wie mit einer Mikrofräse. Die Kombination mit einem Elektronenmikroskop macht die Anlage für viele Anwendungsbereiche etwa aus der Nanotechnologie, den Materialwissenschaften und der Biologie besonders interessant. Die komplette Pressemitteilung finden Sie hier...